テスト時の消費電力削減

LSI は熱に弱いため,テスト時においても,多量の熱を発生しないようなテストパターンを印加する必要がある.電力を消費しないテストパターンを用いたテスト,即ちローパワー(低消費電力)テストの重要性が高まっている.

問題
消費電力は回路内で 0->1または1->0 に変化するゲート数に依存しているため,テストベクトルを印加する順序が大きな問題である.いま4つのテストパターン t1, t2, t3, t4 が与えられ,それらの各ペアを印加したときの消費電力が下記の表のようであったとする.例えば,t1-t2の順に印加したときの消費電力は7,t1-t3の順に印加したときの消費電力は4である.t1-t2-t3-t4の順に印加したとすれば,その消費電力は7+4+9=20となる.
問題は消費電力が最小となるようなテストパターンの印加順序を求めることである.

前\後 t1 t2 t3 t4
t1 7 5 8
t2 7 4 6
t3 6 5 9
t4 8 4 5
 

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