LSIの設計・テスト・CADアルゴリズムに関する研究

どのような製品に対しても,それが正しく動くことを保証するためにテストが必要である.LSI(大規模集積回路)においても同様であるが,LSI は非常に複雑であるのでテストが非常に困難である.そのため,設計の段階からテストのことを考慮に入れておく必要がある.もしテストのことを考慮せずに設計された LSI は,テストすることができないと言える.今日の LSI の設計はコンピュータなしでは行うことができず,コンピュータ利用したコンピュータ援用設計 (Computer Aided Design: CAD)とよばれている.

  • テストパターン生成
    LSI に故障があると仮定し,その故障を検出するための入力パターン(テストパターン)を生成する問題.
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  • テスト圧縮
    テストにかかる時間を短くするためには,テストに用いる入力パターン数を少なくすることが必要である.テスト圧縮とはテストの質を落とさずに入力パターン数を少なくする問題.
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  • テスト時の消費電力削減
    LSI は熱に非常に弱い.テスト時の LSI の消費電力を削減する問題.
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